Metodologia testowania modułów pamięci DRAM
Kluczowym elementem procesu produkcji pamięci są opracowane przez nas autorskie procedury testowania oraz walidacji. Proces ten realizowany jest dzięki wsparciu światowej jakości maszyn i urządzeń oraz własnych rozwiązań i platform testowych. W zależności od docelowego zastosowania oraz aplikacji, pamięci podlegają dedykowanym procedurom testowym. Sprawdź jak wygląda podstawowy proces testowania pamięci RAM naszej marki.
1. Pierwszym etapem kontroli modułów pamięci DRAM po procesie montażu SMT jest test OPEN/SHORT, podczas którego sprawdzana jest poprawność montażu, a do modułów wgrywana jest ich konfiguracja. Test jest wykonywany przy pomocy specjalizowanych testerów wyprodukowanych przez CST – jednego z zaledwie kilku producentów tego typu urządzeń na świecie. Te zaawansowane urządzenia w krytycznych sytuacjach pozwalają na dokonanie pomiarów elektrycznych modułów pamięci i wyeliminowanie błędów z procesu.
2. Moduły pamięci DRAM, które pozytywnie przeszły pierwszy etap kwalifikacji zostają poddane kolejnemu testowi zwanemu testem aplikacyjnym, w którym stosowany jest autorski program testowy Wilk Elektronik. Tak jak typowy system operacyjny, program do testowania zarządza pamięcią oraz zadaniami, w ramach których odbywa się proces zapisu/odczytu, oraz weryfikacja danych wzorcowych. Te zbudowane są w ten sposób, by symulować intensywną pracę modułów w komputerze taką jak przetwarzanie obrazu lub dźwięku bądź pracę aplikacji wielowątkowych. W sytuacji, gdy program wykryje przekłamanie danych wzorcowych, sygnalizowany jest błąd. Dzięki specjalnie zbudowanym w Wilk Elektronik algorytmom, program umożliwia zlokalizowanie uszkodzonego układu pamięci. Należy podkreślić, że budowa algorytmów testowych wymaga aktualizacji tak, aby zapewnić maksymalną skuteczność diagnostyczną dla każdych nowych układów pamięci wprowadzanych do procesu produkcji. Podobnie rozbudowa stanowisk testowych o nowe modele płyt głównych PC wymaga aktualizacji programu testowego w celu dodania nowych algorytmów wskazujących lokalizację uszkodzenia. Algorytmy te są tworzone unikalną metodą wypracowaną w Wilk Elektronik. Zmiany i aktualizacje oprogramowania są opracowywane i wdrażane przez dział Laboratorium Wilk Elektronik.
3. Działanie programu testującego jest kontrolowane poprzez sieć LAN. Program pobiera z serwera ustawienia testu i porównuje z testowanym modułem pamięci. Jeżeli np. szybkość lub pojemność pamięci są różne od zadanych poprzez konfigurację stanowiska testowego, sygnalizowany jest błąd. Jest to dodatkowy etap kontroli potwierdzający poprawność wgranej konfiguracji. Na tym etapie program zapisuje w logach serwera wynik testu, gdy wskazuje on uszkodzenie, również z zapisaniem listy testów, które wykryły uszkodzenie. W ten sposób tworzona jest statystyka pozwalająca na doskonalenie procedur testowych i podnoszenie jakości produkowanych przez Wilk Elektronik pamięci. Z procesem podnoszenia jakości wiążą się procedury postępowania, według których w cyklu kwartalnym analizowana jest statystyka reklamacji oraz aktualizowany jest katalog procedur testowych. Zatem w procesie realizowany jest cykl Deminga, w którym znajduje się planowanie, wdrażanie, sprawdzanie, poprawianie procedur testowych.
4. Identyfikacja produktów jest zapewniona poprzez unikalny numer testu zapisany przez program testujący w pamięci EEPROM oraz numer seryjny na etykiecie. Dzięki temu możliwe jest powiązanie modułu pamięci z informacjami o przebiegu procesu testowania oraz zleceniem produkcyjnym, a dalej z BOM oraz dostawcami. Nadrzędnym celem tej procedury jest zapewnienie identyfikowalności produktów wymaganej przez szerokie grono kontrahentów.
5. Ostatnim etapem przyjętej przez Wilk Elektronik metodologii testowania jest ocena wyników otrzymanych z procesu testowania. Odbywa się to w dziale kontroli jakości, który decyduje o dopuszczeniu produktu do sprzedaży. W tym zakresie pomoc stanowi katalog procedur testowych, w którym zdefiniowane są progi odpadu tzw. „progi re-testu”, po przekroczeniu których następuje ponowienie procedury testowej. Ten sposób postępowania wiąże się z tzw. „krzywą wannową”, wg. której uszkodzenia powstające w pierwszym okresie użytkowania mogą być pobudzane za pomocą testów w aplikacji. Podążając za definicją krzywej, malejący odpad w kolejnych powtarzanych cyklach testu wskazuje na osiągnięcie przez produkt okresu „życia”, w którym uszkodzenia powinny powstawać jedynie wskutek niewłaściwej eksploatacji lub uszkodzenia mające charakter losowy.
6. Uzupełnieniem możliwości diagnostycznych pamięci na stanowiskach testowych jest ich walidacja w komorze klimatycznej. Walidacja w komorze pozwala na potwierdzenie prawidłowego projektu oraz budowy pamięci, doboru komponentów, procesu montażu i zapewnia potwierdzenie możliwości pracy w wyspecyfikowanych parametrach. Walidacja w komorze klimatycznej przebiega zgodnie ze specyfikacją klienta lub ogólnoświatowym standardem z rodziny IEC60068. Walidacja w komorze termicznej może się odbywać w temperaturze od -70ºC aż do 180ºC oraz wilgotności do 95% przy 95ºC. Opracowane przez Wilk Elektronik metody prowadzenia walidacji, pozwoliły na zastąpienie w ujemnych temperaturach wybuchowego glikolu wodą, która z powodzeniem stosowana jest w temperaturze -45°C. Co więcej, metody uszczelnienia komory klimatycznej tj. zabezpieczenie przed przenikaniem wilgoci, zostały opracowane na potrzeby procesu przez Wilk Elektronik. Proces walidacji dostosowywany jest do bieżących potrzeb klientów tj. wymaga on procedur przygotowania urządzeń oraz przebiegu procesu. To samo tyczy się oprogramowania użytego w celu weryfikacji poprawności pracy w warunkach klimatycznych. Przyjęte w Wilk Elektronik procedury pozwalają na stosowanie sprzętu dostarczonego przez klienta.